快速便捷评估AFM针尖的样品
钝头或断头会严重影响表面粗糙度或结构尺寸等测量结果!为了确保正确的结果,必须定期丢弃使用过的针尖或由SEM对其进行检查,这两种方法都非常不经济或耗时。
在无需扫描整个图像或进行SEM检查的情况下,检查针尖是否仍然良好,开始显示磨损或已经钝化!
此外,此示例可与市场上提供的自动针尖鉴定和针尖表征软件完美配合。
这三个图显示了用于对 TipCheck 样本成像的不同探针之间的比较。
TipCheck样品包括一层非常耐磨的薄膜涂层,该涂层沉积在硅芯片上。这种薄膜涂层显示出颗粒状,针尖的纳米结构,非常适合对AFM针尖顶点进行反向成像。
TipCheck的芯片尺寸为5x5mm。它既可以安装在12mm的金属光盘上,也可以不安装(TipCheck-UM)。