AFM针尖
校准标准
AFM资料
分销商ElectriTap300-G
铂金整体涂层的轻敲模式AFM针尖
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AFM针尖特征:
AFM针尖
形状
旋转
高度
17 µm
(15 - 19 µm)*
(15 - 19 µm)*
挫折
15 µm
(10 - 20 µm)*
(10 - 20 µm)*
半径
25 nm
半锥角
沿悬臂轴20°-25°，侧面25°-30°，顶点10°
AFM悬臂
A悬臂
光束
40 N/m
(20 - 75 N/m)*
300 kHz
(200 - 400 kHz)*
125 µm
(115 - 135 µm)*
30 µm
(25 - 35 µm)*
4 µm
(3 - 5 µm)*
* 典型范围
涂层
Electrically conductive coating of 5 nm Chromium and 25 nm Platinum on both sides of the cantilever. This coating also enhances the laser reflectivity of the cantilever.
对准槽
该产品在支架芯片背面具有对准凹槽。
附加信息
单片硅AFM针尖，用于高频非接触和轻敲模式操作，以及电模式，例如：
- 扫描电容显微镜（SCM）
- 静电力调制显微镜（EFM）
- 开尔文探针力调制显微镜（KFM）
- 扫描探针光刻
旋转的AFM针尖可以更对称地表示高样品特征。一致的AFM针尖半径可确保良好的分辨率和重复性。
AFM固定器芯片符合行业标准尺寸，因此适合大多数商用AFM系统。
始终如一的高质量低价！
